Semicon

Vysoce přesné 3D AOI pro automatické měření miniaturních komponent a objektů v polovodičovém průmyslu.

Vysoce přesné 3D SPI pro automatické měření depozitů a past v polovodičovém průmyslu.

Kompaktní a mnohostranné řešení pro 2D a 3D mikrofokální inspekci v oblasti semicon, advanced packaging a pro vědu a výzkum.

Stroje řady XS jsou automatické rentgeny konstruované na vysoké rozlišení a malé nároky na prostor.

Šablony CK vykazují lepší parametry tisku díky řezání na speciálně vyvinutých laserech. Nabízíme šablony typu standard, NANOVATE, stepové, 3D a Pumprint.

Při šablonovém tisku nelze podceňovat ani materiál a provedení stěrek. Christian Koenen má ve svém portfoliu i celou řadu doplňků a příslušenství.

Díky tomuto softwaru pro inspekci a měření lze data z CT snadno a hned analyzovat s velkou přesností.